Low-temperature scanning probe microscope - Institute of Science and Technology Austria

Informationen

Gewerke:
Laborausrüstung
Veröffentlichung: 24.03.2024 18:13:52Abgabe: 31.12.2999 00:00:00Region:

Ort: 3400 KlosterneuburgArt:

Beschreibung:
Rastersondenmikroskopiesystem mit einem Kryostaten mit geschlossenem Kreislauf und einem supraleitenden Magneten. Das Mikroskop muss bildgebende Verfahren wie Rasterkraftmikroskopie (AFM), Magnetkraftmikroskopie (MFM), Kelvin-Sondenkraftmikroskopie (KPFM) und andere unterstützen.