Lieferung eines Cryo Focused Ion Beam Scanning Elektronenmikroskops (cryo-FIB-SEM)

Informationen

Gewerke:
LaborausrüstungVeröffentlichung: 18.03.2025 10:23:43Abgabe: 31.12.2999 00:00:00Region:

Ort: WienArt:

Beschreibung:
Lieferung eines Cryo Focused Ion Beam Scanning Elektronenmikroskops (cryo-FIB-SEM)

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