Beschreibung:
Komplettes Rasterkraftmikroskop-System für kleine und mittelgroße Proben, bestehend aus einem biegungsgeführten XY-Scanner, einem Standard-FX-AFM-Kopf mit entkoppeltem, biegungsgeführtem Z-Scanner, einem Multi-Snap-In-Probenhalter, einem motorisierten XY-Tisch, einem motorisierten Z-Tisch, einem automatischen Sondenwechsler, einem motorisierten Optik-Tisch, einem motorisierten Fokustisch, einer direkt auf der Achse angeordneten Optik, Park AFM-Controller.