FX40 Complete AFM System für die AIT Austrian Institute of Technology GmbH
Art des Dokuments
Vergebener Auftrag
Veröffentlicht am
30.09.2026
Ort der Leistungserbringung
Österreichweit (österreichweit)
Gewerke
Laborausrüstung
Kurzbeschreibung
Komplettes Rasterkraftmikroskop-System für kleine und mittelgroße Proben, bestehend aus einem biegungsgeführten XY-Scanner, einem Standard-FX-AFM-Kopf mit entkoppeltem, biegungsgeführtem Z-Scanner, einem Multi-Snap-In-Probenhalter, einem motorisierten XY-Tisch, einem motorisierten Z-Tisch, einem automatischen Sondenwechsler, einem motorisierten Optik-Tisch, einem motorisierten Fokustisch, einer direkt auf der Achse angeordneten Optik, Park AFM-Controller.